Rasterelektronenmikroskopie (REM) und Energiedispersive Röntgenanalyse (EDX) [AA-3] – NEU

Ziel

Der REM-Kurs bietet eine Einführung in die Rasterelektronenmikroskopie und zeigt die zugrunde liegenden Wechselwirkungen zwischen Elektronen und Materie. Im Weiteren werden die verschiedenen Detektionsmöglichkeiten erklärt. Die Funktionsweise des REM und des verwendeten EDX-Detektors werden ausführlich diskutiert und Applikationen mit geeigneter Probenvorbereitung werden vorgestellt und praktisch geübt.
Durch Kennenlernen des Geräteaufbaus eines Rasterelekronenmikroskopes und der Wirkungsweise des EDX-Detektors (bei modernen Tischinstrumenten), können Sie diese aussagekräftige Technologie theoretisch besser verstehen und für Ihre Analysen sinnvoll einsetzen. Die Möglichkeiten und Grenzen von bildgebenden Verfahren in der Oberflächenanalytik werden aufgezeigt. Zudem werden im Kurs auch die geeigneten Probenaufbereitungstechniken erklärt und praktisch geschult.
Anwendungen aus der technischen Industrie (Kunststoffe / Elektronikbauteile / Oberflächen / Metalle / usw.), wie auch im Bereich Biologie und Pharma (Saatgut/Tabletten/usw.) werden besprochen. Tipps und Tricks zur Beurteilung der REM-Bilder und EDX-Spektren, inkl. Elementverteilung runden den Kurs ab.

Zielgruppe

Einsteiger und Praktiker. Laboranten, Chemiker, Labor- und Gruppenleiter, QM-Verantwortliche. Grundlagen der anorganischen Chemie (Basiswissen Periodensystem) sind vorteilhaft.

Inhalt

  • Grundlagen und prinzipieller Aufbau des REM
  • Wechselwirkung zwischen Probe und Elektronenstrahl beim Beschuss der Probe mit Elektronen
  • Detektoren (EDX, SE, BSE), Varianten, Aufbau und Wirkungsweise
  • Aufläsungsvermögen, Schärfentiefe – Abgrenzung zu anderen Messtechniken
  • Anwendungsbeispiele
  • Probenvorbereitung / Messung / Interpretation und Beurteilung der Daten
  • Praktische Übungen und Messungen am Gerät (Tabletop Mikroskope)

Durchführung / Arbeitsweise

Vorträge im Dialog mit den Teilnehmenden.

Termin Eigenschaften

Datum 01.06.2018 09:00 - 01.06.2018 17:00
Einzelpreis Mitglieder CHF 560.00, Nichtmitglieder CHF 700.00, Studierende/AHV CHF 300.00
Referent Hans-Jörg Grether, Peter Stark, Portmann Instruments AGl
Kurssprache German
Ort
Portmann Instruments AG
Gewerbestrasse 18, 4105 Biel-Benken, Schweiz
Portmann Instruments AG, Biel-Benken
753.90CHF

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