Phasen- und Mikrostrukturanalyse mit Röntgenbeugungsmethoden [AA-12]

Ziel
Sie verstehen fundamentale Techniken, sowie die Möglichkeiten und Grenzen der Phasenanalyse und Mikrostrukturcharakterisierung kristalliner Proben mit Hilfe von Röntgenbeugungsexperimenten. 

 

Zielgruppe
Personen, die einen Einblick in die theoretischen und praktischen Grundlagen der vorgestellten Techniken gewinnen oder ihr Wissen vertiefen wollen. Der Kurs richtet sich gleichermassen an Anfänger und erfahrene Teilnehmer. Grundkenntnisse in Kristallographie und Röntgenbeugung sind von Vorteil, aber nicht Voraussetzung.

 

Inhalt

  • Grundlagen der Kristallographie und Röntgenbeugung
  • Funktionsweise eines Röntgendiffraktometers
  • Texturbestimmung
  • Kristallitgrössenbestimmung
  • Spannungsanalyse
  • Phasenanalyse

 

Durchführung / Arbeitsweise
Fachreferate, Beispiele aus der Praxis, Labordemonstration 

Termin Eigenschaften

Datum 11.07.2019 09:00 - 11.07.2019 17:00
Einzelpreis Mitglied CHF 600.00, Nichtmitglied CHF 750.00, Studierende/Doktorierende/AHV CHF 320.00
Referent Dr. Thomas Weber, X-Ray Platform / Department of Materials / ETH-Zürich
Kurssprache German
Ort
ETH Zürich
Vladimir-Prelog-Weg 1, 8093 Zürich, Schweiz
ETH Zürich, Zürich
750.00CHF

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