Charakterisierung von Beschichtungen: Analytik und Schichtdickenmessung [AA-10]

Ziel:
Einen Überblick über die diversen Methoden der Schichtanalytik und Schichtdickenmessung schaffen und einzelne, häufig verwendete Methoden vertiefen.

Zielgruppe:
Der Kurs richtet sich an Personen aus den Bereichen Forschung, Entwicklung, Qualitätssicherung und behördlicher Überwachung, die sich mit der Charakterisie­rung von Schichtsystemen befassen.

Inhalt:

  • Für die Charakterisierung von Beschichtungen ist die Bestimmung der Schichtdicke und die Analyse der chemischen Zusammensetzung von zentraler Bedeutung. Beide Parameter bestimmen grösstenteils die mechanischen, elektrischen wie auch chemischen Eigenschaften der Schichten.
  • Für die Schichtdickenmessung haben sich in den vergangenen Jahren im industriellen Umfeld diverse Methoden etabliert, die eine sehr effiziente Arbeitsweise erlauben. Insbesondere sind dies elektromagnetische Methoden, die für einfache Schichtsysteme wie beispielsweise Lacke oder Zink auf Stahl im Korrosionsschutzbereich eingesetzt werden. Komplexere Verfahren wie die Röntgenfluoreszenzanalyse bieten die Möglichkeit, Dicke und chemische Zusammensetzung simultan zu bestimmen. Dies ist für Schichtsysteme mit höheren Anforderungen wie chemisch Nickel von besonderer Bedeutung.

  • Der Kurs beinhaltet im ersten Teil eine Übersicht der Verfahren für Schichtdickenmessung und Schichtanalytik. Es werden dabei sowohl die eher akademischen, als auch die industriell einsetzbaren Verfahren betrachtet. Anschliessend werden die wichtigsten Methoden anhand von praktischen Beispielen aus diversen Industriezweigen vertieft. 

Durchführung / Arbeitsweise:
Fachvortrag mit vielen Beispielen aus der industriellen Praxis, kombiniert mit Demonstrationen an verschiedenen Messinstrumenten. Teilnehmer können auch Versuche an selbst mitgebrachten Mustern durchführen.

Termin Eigenschaften

Datum 19.10.2017 09:00 - 19.10.2017 17:00
Einzelpreis Mitglieder CHF 510.00, Nichtmitglieder CHF 630.00, Studierende/AHV CHF 260.00
Referent Dr. Daniel Sutter Helmut Fischer Technologie AG, Hünenberg
Kurssprache German
Ort
Eawag Wasserforschungsinstitut
Überlandstrasse 133
Eawag Wasserforschungsinstitut, Dübendorf
680.40CHF

Location Map


Sekretariat Weiterbildung SCG/DAS | ℅ Eawag | Überlandstrasse 133 | CH-8600 Dübendorf
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